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CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS

Microscopio Electrónico de Barrido (SEM por sus iniciales en inglés)

El microscopio SEM EVO HD25 con el que cuenta el CLPU ha sido suministrado por la casa Carl Zeiss Microscopy.

El procedimiento de trabajo del SEM consiste en escanear la superficie de un espécimen focalizando haces de electrones. La señal ofrecida por los electrones dispersados es recogida por diferentes detectores instalados en la cámara de vacío y procesados por un programa de control con el que se obtienen imágenes en alta resolución (sobre 20 nanómetros)

Especificaciones:

  • Cañón termoiónico de electrones con filamento LaB6/li>
  • Aspirados, bomba turbomolecular
  • Presión variable (10-400 Pa)
  • Tres tipos de detectores para optimizar resultados:
      • Detector Secundario de Electrones (SED por sus iniciales en inglés) para obtener imágenes en tiempo real.
      • Presión Variable de electrones secundarios (VPSE por sus iniciales en inglés) para impedir efectos de carga por el uso de un gas que ioniza moléculas. Neutraliza los electrones atrapados en la superficie, de forma que estabiliza la misión SE.
      • Detector de Retrodispersión (BSD por sus iniciales en inglés). En este caso la detección se basa en la recogida y análisis de los electrones restrodispersados.
  • Gran cámara de vacío (con un carrusel de 9 bases de 12 mm de diámetro)
  • Once puertos para los accesorios de los detectores y una posible ampliación a 3000 Pascal.

El SEM instalado en el CLPU ha sido también equipado con tres detectores adicionales:

# STEM – Microscopio Electrónico de Barrido y Transmisión. Es un tipo de Microscopio electrónico de Transmisión (TEM) en el que los electrones atraviesan la muestra. La principal diferencia es que el STEM trabaja a bajo voltaje, máximo 30 keV, mientras que el mínimo del TEM son los 50 keV. Por lo tanto, el STEM trabaja correctamente siempre y cuando la muestra sea lo suficientemente fina.

# EDS – Espectroscopía Dispersiva de Electrones. Dispositivo con el que se obtiene la composición química de las muestras mediante un análisis de la dispersión de rayos X. Este proceso tiene lugar cuando el haz primario de electrones interactúa con los átomos provocando en la muestra transiciones de Shell que aparecen en la emisión de un rayo X. Este rayo X posee una energía característica de los elementos atómicos parent.

# EBSD – Espectroscopía por Difracción de electrones retrodispersados . Es un SEM basado en una técnica microestructural-cristalográfica para medir la orientación cristalográfica en principio de cualquier material cristalino. Más detalles sobre esta técnica en http://www.ebsd.com/.

Requisitos Generales para las muestras (descargar)

NOTA: La calidad de las imágenes dependen en gran medida de la preparación de la muestra, por lo que esto resulta fundamental cuando se quieren obtener imágenes en alta definición. El CLPU no se encargará de la preparación de las muestras. Los usuarios serán en todo momento responsables de su correcta preparación (revestimiento, pulido, corte…) según se indican en los requisitos generales que pueden descargarse en esta página.

 

 

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM por sus iniciales en inglés)

EL AFM es un instrumento opto-mecánico que ofrece imágenes en tres dimensiones (topográficas) gracias al uso de una aguda punta metálica de pequeño tamaño durante el escaneo de las superficies de las muestras. 

Nuestro microscopio AFM pertenece a la casa NANOTEC S.A y permite la caracterización y la muestra de ejemplares de escala nanométrica e incluso atómica. El área máxima de escaneo es de 80x80μm.

  

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NOTA: La calidad de las imágenes dependen en gran medida de la preparación de la muestra, por lo que esto resulta fundamental cuando se quieren obtener imágenes en alta definición. El CLPU no se encargará de la preparación de las muestras. Los usuarios serán en todo momento responsables de su correcta preparación (revestimiento, pulido, corte…) según se indican en los requisitos generales que pueden descargarse en esta página.

Requisitos Generales para las muestras (descargar)